圖像分析型粒度分布測量軟件 Mac-View介紹
結合各種識別工具，實現對所有粒子的測量和分析
通過讀取 SEM 或 TEM 拍攝的圖像并識別目標顆粒，自動計算粒度分布并量化顆粒形狀。
通過使用手寫板的手動分析工具，可以輕松識別形狀復雜的顆粒和聚集顆粒。
Mac-View Version.5 的新功能和改進
-粒子采集模式新增“針狀”
?提高自動識別處理速度
■ 聚集粒子的一次粒徑分析
可以評價凝集粒子的一次粒徑，這在過去是困難的。
■ 納米粒子的評價
只要有尺度信息，無論粒度如何，都可以進行分析。
■ 多方面的分析/評估
可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度、縱橫比等）。另外，可以獲得的數據豐富，可以評價凝聚粒子的一次粒子。
■ 操作簡單
無需專業知識，操作簡單，工人的熟練程度無關緊要。
■ 無需昂貴的資本投資
只要您準備好圖像（jpeg、位圖），您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。
納米粒子、聚集粒子、粒狀體、燒結體截面、乳化粒徑等
■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS
Mac-PIAS是一款全新維度的綜合粉體分析軟件，可以對任何方法測得的“粒度分布數據”進行集中管理和分析。
■ 篩分試驗數據分析軟件Macmesh
Macmesh 是一款通過大量數據消除篩選測試中的人為錯誤并高效工作的工具。
| 測量功能 | 面積/周長/大徑/小徑/最大長度/最小長度/海伍德直徑/圓周圓當量直徑/圓度系數/縱橫比/形狀系數1-3/費雷特直徑/馬丁直徑/克魯姆拜因直徑/雙軸平均直徑，雙軸幾何平均直徑、雙軸協調平均直徑、長度等 |
|---|---|
| 分析功能 | 粒度% ? ON / PASS 分析 ? 體積/數量/長度轉換 ? 峰值數據分析 ? 匯總數據分析 ? 粒度分類轉換 ? 篩分垂直轉換 ? 形狀系數分析 ? 數據合成 ? 數據分組 |
| 其他功能 | 各種圖形顯示功能、各種打印輸出功能、文本輸出功能、圖像輸出功能等。 |
| 操作環境 | ● PC/AT 兼容機運行Microsoft Windows 7/8/10（同時兼容32/64bit） *如果您使用的是Windows 7/8，請通過Windows Update 安裝新的更新程序。 ● 用于許可證驗證的USB 硬件配備可用于的USB 端口（必需） ● 連接掃描儀（兼容TWAIN）和可選液晶數位板時，需要USB 端口等接口 ● 顯示器：顯示高達全高清分辨率（1,920 x 1,080） ● CPU：根據操作系統所需的試用版（1 GHz 或更高的 CPU） ● 內存：建議 2GB 或更多 ● 至少需要 200MB 的可用空間內部硬件 ● 安裝 有時需要 CD-ROM 驅動器 |
| 對應標準 | 基于 JIS Z 8827-1 |
